【英文标准名称】:Semiconductordevices.Discretedevices.Part3:Signal(includingswitching)andregulatordiodes.SectionTwo:Blankdetailspecificationforvoltage-regulatordiodesandvoltage-referencediodes,excludingtemperature-compensatedprecisionreferenced
【原文标准名称】:半导体器件分立器件第3部分:信号二极管(包括开关二极管)及调整二极管第2节:电压调整二极管和电压基准二极管(不包括温度补偿精密基准二极管)空白详细规范
【标准号】:IEC60747-3-2-1986
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1986
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:Applicabletoqualityassessmentforvoltage-regulatordiodesandvoltage-referencediodes,excludingtemperature-compensatedprecisionreferencediodes.Givesspecificrequirements(includedinQC750005oftheIECQsystem),representstheblankdetail
【中国标准分类号】:L41
【国际标准分类号】:31_080_10
【页数】:13P;A4
【正文语种】:英语

标准名称：	基本环境试验规程 第２部分：各种试验 试验Ｑ：密封
英文名称：	Basic environmental testing procedures-Part 2: Tests-Test Q: Sealing
中标分类：	医药、卫生、劳动保护 >> 医药、卫生、劳动保护综合 >> 技术管理
替代情况：	参见GB/T 2423.23-1982
发布日期：	1987-11-27
实施日期：	1987-11-27
首发日期：	1900-01-01
作废日期：	1900-01-01
出版日期：	1900-01-01

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